Статистическая модель плосконапряженного состояния тонких молекулярных пленок

Abstract

В данной статье предпринята попытка разработки двумерной статистической модели деформированной кристаллической пленки с точечными дефектами типа вакансий. Для этого используется ранее раз­витое двухуровневое молекулярно-статистическое описание свойств неоднородных систем с центральным взаимодействием. Сформулированы основные положения двумерной статистической модели. Для статистического описания структуры этой модели используется система замкнутых интегральных уравнений для потенциалов средних сил неоднородной деформированной среды. Для однородного плосконапряженного состояния решетки составлена система двух интегральных уравнений для потен­циалов средних сил, которая решена аналитически в приближении Гаусса. В результате получена система нелинейных алгебраических уравнений для коэффициентов разложения потенциалов средних сил, а также выражение для нормированной коррелятивной функции распределения молекул вблизи центров микроячеек, т. е. узлов плоской деформированной решетки.