Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://elib.belstu.by/handle/123456789/65308
Название: Изучение границы раздела фаз в структуре Ti-Si с применением Xe маркера
Авторы: Бобрович, Олег Георгиевич
Ташлыков, Игорь Серафимович
Глухатаренко, Т. И.
Ключевые слова: метод ИАНПУС
ионная бомбардировка
ионно-ассистированное нанесение
методи­ка введения Хе маркера
Дата публикации: 2005
Издательство: БГТУ
Библиографическое описание: Бобрович, О. Г. Изучение границы раздела фаз в структуре Ti-Si с применением Xe маркера / О. Г. Бобрович, И. С. Ташлыков, Т. И. Глухатаренко // Труды Белорусского государственного технологического университета. Серия VI. Физико-математические науки и информатика. - 2005. - Вып. XIII. - С. 90-92. - Библиогр.: 5 назв.
Краткий осмотр (реферат): Статья посвящена проблемам осаждения тонких покрытий на изделия и материалы. Предложена методи­ка введения Хе маркера для определения положения реальной межфазной границы в структуре покрытие - подложка, что позволяет выявить процессы диффузии элементов покрытия в глубь подложки и встречной диффузии элементов подложки в покрытие.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): https://elib.belstu.by/handle/123456789/65308
Располагается в коллекциях:Труды БГТУ. №6. Физико-математические науки и информатика, 2005

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Бобрович О. Г. Изучение.pdf320.61 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.