Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/71486| Title: | Параметрический автодинный детектор для качественного анализа свойств полупроводниковых пленок |
| Authors: | Анкуда, Максим Анатольевич Оробей, Игорь Олегович Сарока, Виктор Викторович |
| Keywords: | ЯМР-спектроскопия полупроводниковые пленки ЯМР-сигналы спектральный анализ сигналов параметрический автодинный детектор анализ свойств полупроводниковых пленок |
| Issue Date: | 2025 |
| Publisher: | БГТУ |
| Citation: | Анкуда, М. А. Параметрический автодинный детектор для качественного анализа свойств полупроводниковых пленок / М. А. Анкуда, И. О. Оробей, В. В. Сарока // Химическая технология и техника : материалы 89-й научно-технической конференции профессорско-преподавательского состава, научных сотрудников и аспирантов (с международным участием), Минск, 3–18 февраля 2025 г. – Минск : БГТУ, 2025. – С. 365-367. |
| Abstract: | В статье рассмотрен параметрический автодинный детектор для качественного анализа свойств полупроводниковых пленок. |
| URI: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/71486 |
| Appears in Collections: | материалы конференции постатейно |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Анкуда_Параметрический.pdf | 193.16 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.