Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://elib.belstu.by/handle/123456789/71486
Название: Параметрический автодинный детектор для качественного анализа свойств полупроводниковых пленок
Авторы: Анкуда, Максим Анатольевич
Оробей, Игорь Олегович
Сарока, Виктор Викторович
Ключевые слова: ЯМР-спектроскопия
полупроводниковые пленки
ЯМР-сигналы
спектральный анализ сигналов
параметрический автодинный детектор
анализ свойств полупроводниковых пленок
Дата публикации: 2025
Издательство: БГТУ
Библиографическое описание: Анкуда, М. А. Параметрический автодинный детектор для качественного анализа свойств полупроводниковых пленок / М. А. Анкуда, И. О. Оробей, В. В. Сарока // Химическая технология и техника : материалы 89-й научно-технической конференции профессорско-преподавательского состава, научных сотрудников и аспирантов (с международным участием), Минск, 3–18 февраля 2025 г. – Минск : БГТУ, 2025. – С. 365-367.
Краткий осмотр (реферат): В статье рассмотрен параметрический автодинный детектор для качественного анализа свойств полупроводниковых пленок.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): https://elib.belstu.by/handle/123456789/71486
Располагается в коллекциях:материалы конференции постатейно

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Анкуда_Параметрический.pdf193.16 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.