Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/30500| Title: | Надежность избыточных микросхем памяти, устойчивых к двойным ошибкам |
| Authors: | Урбанович, Павел Павлович |
| Keywords: | запоминающие устройства надежность информации |
| Issue Date: | 1990 |
| Citation: | Урбанович П. П. Надежность избыточных микросхем памяти, устойчивых к двойным ошибкам / П.П. Урбанович // VII Международная конференция по микроэлектронике. Минск, 16-18 октября 1990. Т. 4. - Минск. - 1990. - С. 30-32 |
| Description: | Одно из направлений в современных методах обеспечения надежности микросхем запоминающих устройств (ЗУ) заключается в размещении на кристалле ЗУ избыточных логических и запоминающих элементов, посредством которых осуществляется замена или нейтрализация дефектных либо отказавших элементов |
| URI: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/30500 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Microelectronics'90-3.PDF | 177.46 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.