Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/30500| Название: | Надежность избыточных микросхем памяти, устойчивых к двойным ошибкам |
| Авторы: | Урбанович, Павел Павлович |
| Ключевые слова: | запоминающие устройства надежность информации |
| Дата публикации: | 1990 |
| Библиографическое описание: | Урбанович П. П. Надежность избыточных микросхем памяти, устойчивых к двойным ошибкам / П.П. Урбанович // VII Международная конференция по микроэлектронике. Минск, 16-18 октября 1990. Т. 4. - Минск. - 1990. - С. 30-32 |
| Описание: | Одно из направлений в современных методах обеспечения надежности микросхем запоминающих устройств (ЗУ) заключается в размещении на кристалле ЗУ избыточных логических и запоминающих элементов, посредством которых осуществляется замена или нейтрализация дефектных либо отказавших элементов |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.belstu.by/handle/123456789/30500 |
| Располагается в коллекциях: | Статьи в зарубежных изданиях |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Microelectronics'90-3.PDF | 177.46 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.