Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/31445| Название: | Error modeling in semiconductor memory of computers |
| Авторы: | Urbanovich, P. |
| Ключевые слова: | Error modeling semiconductor memory of computers |
| Дата публикации: | 2019 |
| Библиографическое описание: | Urbanovich, P. Error modeling in semiconductor memory of computers / P. Urbanovich // Proc. of 11th Intern. Conf. NEET’2019, Zakopane, Poland, June 25 - 28, 2019. – Lublin University of Techn., 2019. – P. 30. |
| Описание: | Defects in semiconductor memory chips and errors of their functioning are of interest to both manufacturers of memory and their consumers. Memory errors can be classified into soft errors, which randomly corrupt bits but do not leave physical damage; and hard errors, which corrupt bits in a repeatable manner because of a physical defect. Some time ago numerous studies concerning the distribution of failures and bit errors in chips and semiconductor memory systems were conducted. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.belstu.by/handle/123456789/31445 |
| Располагается в коллекциях: | Статьи в зарубежных изданиях |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| NEET'2019-1.pdf | 106.55 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.